1、測(cè)量?jī)x器法
所使用量具備游標(biāo)卡尺、千分尺、塞規(guī)等。
2、帶磁法
帶磁法確測(cè)量鍍膜層薄厚，是用帶磁涂層測(cè)厚儀對(duì)帶磁常規(guī)上的非磁性鍍膜層做好的非毀滅性確測(cè)量。
3、光學(xué)顯微鏡法
光學(xué)顯微鏡法有稱之為金相分析法，這是將歷經(jīng)腐蝕的標(biāo)準(zhǔn)件，放到具備測(cè)微目鏡的體視顯微鏡上變大，確測(cè)量橫斷面上鍍層的薄厚。
4、流液法
流液法是用能使鍍層融解的水溶液流注在鍍層的部分表面上，依據(jù)部分鍍層融解結(jié)束所必須的時(shí)間，來(lái)測(cè)算鍍層的薄厚。也有鍍層點(diǎn)滴法、陽(yáng)極氧化融解庫(kù)侖法等。